O Keithley 2010 é um DMM de alta performance (7½ dígitos) projetado especificamente para testes que exigem máxima imunidade a ruído e baixíssimo nível de sinal. Seu principal diferencial, e o motivo da curadoria da CISTEK, é o piso de ruído de apenas 100 nV RMS, tornando-o ideal para engenheiros de P&D que caracterizam componentes e precisam de repetibilidade excepcional (7 ppm DCV) em medições de tensão de baixo nível.
Mais do que um DMM de bancada, o 2010 atua como um sistema de varredura: ele possui um mainframe para scanner de 10 canais integrado, permitindo que ele se transforme em um sistema de medição multicanal compacto para testes de produção e validação. O recurso de circuito seco (dry circuit) e o modo de baixa potência (low power) o tornam indispensável em testes de semicondutores e resistência de contato.
Em testes de caracterização de componentes, a estabilidade e o ruído da medição são os fatores que limitam a repetibilidade. O DMM 2010 foi otimizado para atingir um piso de ruído de apenas 100 nV RMS, o mais baixo de sua classe. Isso garante uma repetibilidade de 7 ppm na faixa de 10 V, vital em laboratórios que precisam de alta confiança e estabilidade. A CISTEK oferece esta ferramenta para eliminar a incerteza gerada pelo ruído, garantindo que a medição reflita apenas a característica real do Dispositivo Sob Teste (DUT).
Um dos maiores valores do DMM 2010 é a sua arquitetura. Ele é um mainframe de scanner com capacidade DMM de 7½ dígitos integrada. O slot traseiro aceita o Módulo Scanner 2001-TCSCAN para até 10 canais de varredura (V/I/Ohms) e medição de temperatura. Para ambientes de teste de produção de pequeno e médio volume, esta funcionalidade reduz drasticamente o custo e a complexidade do sistema, eliminando a necessidade de um switch externo. É a solução perfeita da CISTEK para otimizar espaço e tempo de configuração.
Em testes de relés, chaves e semicondutores, a tensão de teste do DMM pode contaminar a medição ou danificar o DUT. O 2010 oferece um modo de Circuito Seco (Dry Circuit) e Baixa Potência (Low Power) que permite a medição de resistência com uma tensão de open-circuit limitada a <20 mV e uma corrente limitada a <100 µA. Este recurso é indispensável para evitar a perfuração de óxido ou aquecimento do ponto de contato, garantindo medições de resistência de contato (Ohms) com integridade máxima, um diferencial crucial para a CISTEK.
Para integrar o DMM 2010 em sistemas de Automação de Testes (ATE), ele vem de fábrica com o recurso Trigger-Link. Este sistema permite o controle de temporização de até seis instrumentos Keithley através de uma única interface, eliminando atrasos de software e otimizando a velocidade da varredura multicanal. O DMM 2010 suporta comandos de programação GPIB e RS-232, oferecendo flexibilidade e velocidade para rotinas de teste complexas, o que é fundamental para a CISTEK como parceira em automação.
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Para garantir que você possa aproveitar todo potencial do seu multímetro, abaixo estão os acessóros desta série:
Módulo plug-in para expandir o 2010 para até 10 canais de varredura V/I/Ohms e Temperatura. Essencial para testes multicanal automatizados.
Cabo DIN-para-DIN necessário para utilizar o sistema Trigger-Link, sincronizando o disparo de múltiplos instrumentos em sistemas ATE.
Probes Kelvin para medições de ultra-precisão de baixa resistência, eliminando o erro de cabo (vital para o modo Dry Circuit).
Cabo de comunicação RS-232 para automação em ambientes que não utilizam GPIB.
O 2010 é para aplicações sensíveis.
Piso de Ruído: Confirme se o piso de ruído de 100 nV RMS e a repetibilidade de 7 PPM são cruciais para a caracterização de seus componentes de baixo nível de sinal.
Modo Especial: Valide a necessidade dos modos de Circuito Seco (Dry Circuit) e Baixa Potência para medições de resistência de contato e testes em semicondutores.
Ação: Confirme que a máxima integridade do sinal e a baixa incerteza são os requisitos principais.
O 2010 é uma plataforma de teste.
Scanner Integrado: Se o seu projeto exigir a medição sequencial de até 10 canais, inclua o Módulo Scanner (2001-TCSCAN) no orçamento.
Automação (Trigger): Planeje a automação utilizando o GPIB padrão e o sistema Trigger-Link (Cabo 8501-1) para a sincronização de sistemas de teste.
Ação: Inclua o Módulo Scanner (se necessário) e o Cabo Trigger-Link para começar a construir o seu sistema de teste.
Garantia: O investimento pode incluir a Extensão de Garantia de 3 anos (ex: 2010-3Y-EW) para maior segurança.
Rastreabilidade: Considere os planos de calibração ISO-17025 (ex: C/2010-3Y-ISO) para garantir a rastreabilidade em aplicações críticas.
Ação: Contate a CISTEK. Iremos validar a sua escolha de módulo scanner e acessórios para garantir a melhor configuração para o seu teste de produção ou P&D.
