No ambiente de Pesquisa e Desenvolvimento, o Teste Double Pulse (DPT) é a ferramenta definitiva para extrair os parâmetros dinâmicos de semicondutores SiC e GaN. O desafio técnico reside na captura de transientes de comutação na escala de nanossegundos, onde a precisão na medição de Eon, Eoff e Trr é vital para o desenvolvimento de conversores de próxima geração. Para pesquisadores, é crítico isolar o ruído de modo comum e as indutâncias parasitas que podem falsear os dados de eficiência. Dica técnica: Utilizando osciloscópios de 12 bits com a tecnologia de isolamento óptico IsoVu, você obtém a fidelidade necessária para enxergar o sinal real de gate, permitindo otimizar o circuito de acionamento e mitigar problemas de EMI antes do protótipo final. A automação via software elimina erros de cálculo manual, entregando resultados consistentes para publicações científicas e projetos de alta complexidade.
A seguir, apresentamos os equipamentos-chave para esta área de pesquisa, descrevendo o desafio de medição específico que cada um deles resolve.
