O Teste Double Pulse (DPT) é a metodologia padrão para avaliar o desempenho dinâmico de dispositivos de potência como SiC e GaN. O desafio técnico está em capturar transientes de comutação extremamente rápidos e medir parâmetros como Eon, Eoff e Trr com precisão absoluta em condições reais de carga indutiva. Para engenheiros de potência, qualquer indutância parasita no setup ou erro de temporização nos pulsos pode invalidar os cálculos de eficiência. Utilizando osciloscópios de alta resolução com software de análise dedicado, o processo de medição é automatizado, eliminando cálculos manuais propensos a erros. Combinando a geração precisa de pulsos e o isolamento galvânico das sondas ópticas, nossas soluções permitem validar a robustez do design e otimizar os circuitos de gate drive sob tensões de barramento reais.
A seguir, apresentamos os equipamentos-chave para esta área de pesquisa, descrevendo o desafio de medição específico que cada um deles resolve.
