A Caracterização IV é o pilar fundamental para entender o comportamento de dispositivos semicondutores e novos materiais sob diferentes condições de estresse elétrico. O desafio técnico reside na necessidade de fornecer tensões e correntes precisas enquanto se mede a resposta do dispositivo com resolução de nível laboratorial, muitas vezes lidando com correntes de fuga extremamente baixas ou pulsos de alta potência para evitar o autoaquecimento. Para pesquisadores e engenheiros de P&D, a transição para tecnologias como GaN e SiC exige instrumentação que combine velocidade e baixo ruído. Utilizando as SMUs da Keithley, você integra as funções de fonte e medição em um único instrumento, garantindo precisão de sub-picoampère. Seja para traçar curvas de transistores, validar diodos ou caracterizar células fotovoltaicas, nossas soluções entregam os dados de confiança necessários para levar a inovação do laboratório ao mercado.
A seguir, apresentamos os equipamentos-chave para esta área de pesquisa, descrevendo o desafio de medição específico que cada um deles resolve.
