A validação de dispositivos Wide Bandgap (WBG), como GaN e SiC, redefine os limites da medição em eletrônica de potência. O desafio técnico reside nas velocidades de comutação ultra-rápidas e nas altas tensões, onde sondas diferenciais convencionais falham devido à rejeição de modo comum insuficiente. Para engenheiros de P&D, é crítico medir com precisão o Vgs em transistores de lado alto (high-side) sem que o ruído mascare os transientes e as oscilações de gate. Utilizando osciloscópios de alta resolução combinados com a tecnologia de isolamento óptico IsoVu, você obtém visibilidade total dos sinais flutuantes, eliminando o erro causado pelo dV/dt. Seja na caracterização de materiais ou no teste de Double Pulse, nossas soluções permitem otimizar a eficiência energética e reduzir o tamanho dos conversores, garantindo que sua inovação supere os limites do silício tradicional.
A seguir, apresentamos os equipamentos-chave para esta área de pesquisa, descrevendo o desafio de medição específico que cada um deles resolve.
